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零件清潔度測(cè)試是提升產(chǎn)品可靠性的重要手段之一

德國(guó)汽車(chē)工業(yè)協(xié)會(huì)在2015年3月發(fā)布了關(guān)于顆粒物清潔度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的版VDA 19.1。該文解析了VDA 19.1中顆粒物清潔度測(cè)試的各個(gè)關(guān)鍵步驟，并對(duì)VDA 19.1中提出的如何提高不同設(shè)備之間清潔度分析結(jié)果的可對(duì)比性做了介紹。

汽車(chē)行業(yè)中關(guān)于清潔部件的要求，zui早是由羅伯特·博世公司(Robert Bosch)在1996年為了提高柴油汽車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)共軌噴射系統(tǒng)的生產(chǎn)質(zhì)量而提出的，他們?cè)谏a(chǎn)流程中發(fā)現(xiàn)小噴嘴很容易被系統(tǒng)中殘留的污染顆粒堵塞，因此提出了生產(chǎn)中清潔部件的質(zhì)量規(guī)范，由此誕生了零部件清潔度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。此后，在汽車(chē)系統(tǒng)中很多可靠性問(wèn)題都被歸因于微粒子污染，即零部件清潔度不足。

1.VDA19：

零部件清潔度源于自1996年，2005年德國(guó)汽車(chē)行業(yè)協(xié)會(huì)出版了VDA 19標(biāo)準(zhǔn)，因此該標(biāo)準(zhǔn)成為*非常有用的文件，也成為標(biāo)準(zhǔn)ISO 16232的清潔度檢測(cè)的藍(lán)圖。2009年版的ISO 16232已經(jīng)發(fā)展到與VDA 19標(biāo)準(zhǔn)*兼容。

2.ISO16232：

ISO16232 包括以下部分，總題目為：公路車(chē)輛—有流體循環(huán)的部件的清潔度：

－第1部分：詞匯

－第2部分：機(jī)械攪拌提取污染物的方法

－第3部分：高壓水提取污染物的方法

－第4部分：超聲波技術(shù)提取污染物的方法

－第5部分：多功能試驗(yàn)臺(tái)提取污染物的方法

－第6部分：重量分析法確定顆粒質(zhì)量

－第7部分：顯微分析法確定顆粒粒度和計(jì)數(shù)

－第8部分：顯微分析法確定顆粒本性

－第9部分：用自動(dòng)消光顆粒計(jì)數(shù)器確定顆粒粒度和計(jì)數(shù)

－第10部分：結(jié)果的表述

3.通用GMW 16037-2012汽車(chē)工程標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)力總成零部件清潔度的量化試驗(yàn)方法。

VDA 19出版的10年后，德國(guó)汽車(chē)行業(yè)提出修訂和擴(kuò)展規(guī)范的要求。其主要目的是提高清潔度測(cè)試結(jié)果的可對(duì)比性，并且增加污染物萃取和分析的新內(nèi)容。基于VDA 19的新標(biāo)準(zhǔn)(VDA 19.1)于2015年3月出版，ISO 16232修訂委員會(huì)也相應(yīng)成立，目的是將VDA 19.1標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移到水平。

新的ISO16232預(yù)計(jì)于2017年出版。

如今，這3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)成為了*汽車(chē)行業(yè)中的零部件清潔度的分析框架。特別是這3個(gè)標(biāo)準(zhǔn)中，提到了很多實(shí)用并有詳細(xì)說(shuō)明的關(guān)于零部件表面污染物顆粒的萃取和定量分析的zui常用的方法。

2.測(cè)試方法

所有零部件清潔度分析分為3個(gè)步驟：

1)從零部件表面洗掉的污染物顆粒通過(guò)萃取液來(lái)獲??；

2)液體用過(guò)濾膜進(jìn)行過(guò)濾；

3)將過(guò)濾膜進(jìn)行分析以確定顆粒的質(zhì)量、數(shù)量、尺寸和類(lèi)型。

2.1萃取

zui常見(jiàn)的顆粒萃取方法是用壓力流體沖洗零部件表面。沖洗不同類(lèi)型樣品的一些典型示范，如圖所示。

另一個(gè)普遍的方法是用超聲波清洗機(jī)來(lái)萃取顆粒。雖然在實(shí)驗(yàn)室中很容易實(shí)現(xiàn)，但該方法的使用在過(guò)去幾年中已慢慢減少。對(duì)于鑄造的零部件，超聲波的能量會(huì)損壞鑄造材料的基體，因此可能產(chǎn)生新的顆粒，造成顆粒分析結(jié)果不準(zhǔn)確。對(duì)于零部件內(nèi)表面顆粒的萃取，可采用內(nèi)部清洗和通過(guò)搖晃來(lái)攪拌清洗。

另外，VDA19.1標(biāo)準(zhǔn)中引入了通過(guò)壓力空氣流來(lái)萃取顆粒的新方法。該方法適用于不浸入液體中使用的零部件。不過(guò)，空氣萃取的方法還沒(méi)有廣泛建立起來(lái)。含表面活性劑的洗滌劑的水基溶液是萃取液的，因?yàn)槠涫褂煤罂梢杂媒?jīng)濟(jì)的方式處理。然而，如果零件的表面是油性或油膩的，則水機(jī)溶液的萃取效果就不是很好。在這種情況下，推薦使用冷清洗溶劑。通常情況下，冷清洗溶劑在進(jìn)行萃取使用后會(huì)通過(guò)細(xì)過(guò)濾步驟來(lái)回收利用。

2.2過(guò)濾

通過(guò)液體的真空過(guò)濾，顆粒被吸附在過(guò)濾膜上。為了選擇合適的過(guò)濾膜，必須考慮過(guò)濾膜對(duì)抗液體的化學(xué)穩(wěn)定性和濾膜孔的尺寸。圖2示出2種過(guò)濾膜的結(jié)構(gòu)對(duì)比。

發(fā)泡濾膜的結(jié)構(gòu)像海綿一樣，過(guò)濾效率高，非常適合于確定總顆粒的質(zhì)量。另外，由于發(fā)泡濾膜的可用孔徑能低至亞微米水平，所以可進(jìn)行zui小顆粒的分析。

如果零件上的顆粒以小顆粒為主或萃取液中有碳黑，則過(guò)濾后會(huì)得到一個(gè)黑色背景的濾膜。在這種情況下，往往不可能進(jìn)行顆粒的光學(xué)分析。對(duì)此，標(biāo)準(zhǔn)推薦將一種孔徑為5μm的聚乙烯(PET)網(wǎng)膜作為標(biāo)準(zhǔn)膜。由于網(wǎng)膜不會(huì)出現(xiàn)黑色的背景，因此，5μm的PET過(guò)濾膜非常適合于光學(xué)粒度分析。此外，PET膜在許多萃取液下都可以表現(xiàn)出很好的化學(xué)穩(wěn)定性。然而，市面上zui小的網(wǎng)格濾膜孔徑為5μm，根據(jù)規(guī)定，網(wǎng)膜的孔徑至少要小于所需過(guò)濾顆粒直徑的1/5才能有效把顆粒截留在濾膜上做下一步分析。所以網(wǎng)膜的光學(xué)分析于長(zhǎng)度大于25μm的顆粒。在實(shí)際使用中，發(fā)泡濾膜和網(wǎng)膜可以通過(guò)雙層濾膜托盤(pán)一起使用。

對(duì)于萃取和過(guò)濾，一種簡(jiǎn)單而經(jīng)濟(jì)的方法是使用一個(gè)實(shí)驗(yàn)室噴水器用于粒子提取和一個(gè)玻璃真空過(guò)濾器用于過(guò)濾制備濾膜。此方法對(duì)于可以在一個(gè)燒杯中進(jìn)行提取的中小尺寸的零部件非常適用且很好建立。另一種方法是使用集噴水器、過(guò)濾及液體循環(huán)于一體的自動(dòng)提取柜。相對(duì)于實(shí)驗(yàn)室的簡(jiǎn)單裝置，使用提取柜手動(dòng)操作的提取物會(huì)少一些，同時(shí)成本會(huì)更高。

2.3顆粒分析

2.3.1稱(chēng)重法顆粒分析

通過(guò)稱(chēng)重過(guò)濾膜可獲取顆粒的總質(zhì)量。即只需稱(chēng)出過(guò)濾膜在過(guò)濾前和過(guò)濾后的質(zhì)量，兩者之間的差值就等于顆粒的總質(zhì)量。為了得到準(zhǔn)確的結(jié)果，對(duì)過(guò)濾膜進(jìn)行前處理非常重要。通常將膜浸入萃取液中，然后在烘箱中干燥，zui后儲(chǔ)存在預(yù)先設(shè)置好時(shí)間的干燥器中。需注意，在技術(shù)上很難量化質(zhì)量小于3mg的顆粒，對(duì)此需要一個(gè)的天平和一間環(huán)境條件恒定的房間才有可能進(jìn)行。如果質(zhì)量容差要求很?chē)?yán)格，則建議一大批樣品一起測(cè)試。

2.3.2粒度式顆粒分析

用于粒度式顆粒分析的檢測(cè)設(shè)備(如光學(xué)掃描儀和光學(xué)顯微鏡)都是采用光學(xué)分析原理。.標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)認(rèn)可了可以簡(jiǎn)化粒子分析的儀器(如光學(xué)掃描儀)的發(fā)展趨勢(shì)。在修訂過(guò)程中，VDA 19工作組將Micro-QuickTM顆粒清潔度掃描儀與多種自動(dòng)化光學(xué)顯微鏡設(shè)備進(jìn)行了循環(huán)測(cè)試比較，目的是建立一套儀器參數(shù)，可針對(duì)結(jié)果進(jìn)行更好的對(duì)比。測(cè)試結(jié)果發(fā)現(xiàn)，通過(guò)以一致的方式調(diào)節(jié)照明水平和顆粒檢測(cè)閾值，所得到的定量結(jié)果幾乎一致。關(guān)于粒度標(biāo)準(zhǔn)分析，依據(jù)VDA 19.1建議的運(yùn)行規(guī)程，光學(xué)顯微鏡和平板掃描儀可以獲得同等的測(cè)試結(jié)果。另外，掃描儀快速與簡(jiǎn)便的操作也獲得認(rèn)可。

為了獲得準(zhǔn)確的清潔度測(cè)試結(jié)果，VDA 19.1標(biāo)準(zhǔn)中指出了光學(xué)顆粒分析儀器(掃描儀和光學(xué)顯微鏡設(shè)備)應(yīng)當(dāng)如何進(jìn)行設(shè)置。首先，必須設(shè)置照明水平以確保濾膜的背景水平在灰度值全程的50％。60％，這一步設(shè)置的目的是為了確保無(wú)論過(guò)濾膜上裝載的顆粒數(shù)量多少，背景水平都能夠保持一致，從而提高測(cè)量結(jié)果的重復(fù)性。其次，灰度閾值必須分2步設(shè)置，目的是能夠分別檢測(cè)出過(guò)濾膜上特別暗淡(低閾值)的顆粒和特別明亮有金屬光澤(高閾值)的顆粒，因此VDA 19.1中指出，需設(shè)一個(gè)70％的閾值用于檢測(cè)出暗淡的顆粒，再設(shè)一個(gè)．145％的閾值用于檢測(cè)出明亮的顆粒。這里閾值(如70％或145％)是相對(duì)于實(shí)際的過(guò)濾膜背景水平而言的，如設(shè)定過(guò)濾膜背景水平的照明水平為50％(灰度值全程的50％)，則閾值70％，其對(duì)應(yīng)的灰度值為過(guò)濾背景水平(50％)的70％。根據(jù)VDA 19.1，弱化/避開(kāi)zui小顆粒測(cè)試是近來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)。只有少數(shù)特殊案例，其部件間隙容差非常小，會(huì)要求分析長(zhǎng)度在5～50μm的顆粒，在實(shí)際常規(guī)案例中，長(zhǎng)度在5～50μm的顆粒是沒(méi)有相關(guān)性的，而且對(duì)這么小的顆粒進(jìn)行分析工作量十分巨大，甚至?xí)蔀橐环N工作阻礙。因此，現(xiàn)在已將大于50μm的顆粒分析作為標(biāo)準(zhǔn)要求。通常，顆粒大小分布以不同粒級(jí)以及對(duì)應(yīng)可容納的顆粒數(shù)量進(jìn)行表示，如表所示。

        表 VDA19.1中關(guān)于顆粒物尺寸分布的表述（例）

      根據(jù)定義，在過(guò)濾膜上檢測(cè)到的任何物狀都稱(chēng)為顆粒。在這些顆粒中，有軟纖維和硬粒子。在任何的光學(xué)系統(tǒng)中，纖維和粒子之間是根據(jù)形狀來(lái)識(shí)別區(qū)分的，另外，光學(xué)儀器能夠檢測(cè)金屬反射。因此，通過(guò)觀察顆粒上的金屬光澤可更簡(jiǎn)單地區(qū)分無(wú)光澤和金屬光澤粒子。

然而，必須清楚理解通過(guò)光學(xué)方法檢測(cè)到的“金屬”這一定義，它不是一種實(shí)際的材料分析。當(dāng)顆粒表面受腐蝕后，它是沒(méi)有金屬光澤的，即受腐蝕的金屬顆粒可能會(huì)被歸類(lèi)為非金屬顆粒。而其他高亮的塑料和玻璃可能會(huì)誤判為金屬顆粒。如果要*可靠地定義出顆粒的材料，可以使用掃描電鏡(SEM—EDX)。

2.3.3擴(kuò)展式顆粒分析

在世界各地的清潔度實(shí)驗(yàn)室中廣泛使用SEM-EDX（注1）進(jìn)行VDA 19．1標(biāo)準(zhǔn)中描述的擴(kuò)展式顆粒分析技術(shù)。

由專(zhuān)業(yè)儀器制造公司有針對(duì)汽車(chē)清潔中顆粒分析的特殊需求而定制的儀器。系統(tǒng)能夠以驚人的速度全自動(dòng)地識(shí)別顆粒的各類(lèi)材料，顆粒尺寸可以低至1μm甚至更小。

清潔實(shí)驗(yàn)室如果不愿意購(gòu)置一臺(tái)高成本的SEM-EDX設(shè)備，則可將其試驗(yàn)的分析任務(wù)逐案外包給有資質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室服務(wù)機(jī)構(gòu)。

3.結(jié)論

VDA 19.1、ISO 16232和GMW16037標(biāo)準(zhǔn)介紹的清潔度分析方法科學(xué)全面而且實(shí)用，可作為企業(yè)自編清潔度文件標(biāo)準(zhǔn)的雛形或者分析框架。在提高不同設(shè)備或儀器之間清潔度分析結(jié)果的可對(duì)比性方面，VDA 19.1標(biāo)準(zhǔn)將清潔度標(biāo)準(zhǔn)分析的顆粒定為大于50μm。VDA 19委員會(huì)提出，對(duì)于大部分的清潔度問(wèn)題，小于5μm顆粒的分析工作耗力耗財(cái)，應(yīng)該逐案仔細(xì)評(píng)估是否有必要進(jìn)行小顆粒分析。

注1：

EDX:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy能量色散X射線光譜儀,也可簡(jiǎn)寫(xiě)為EDS　　

EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)的, 根據(jù)波長(zhǎng)測(cè)定試樣所含的元素,根據(jù)強(qiáng)度測(cè)定元素的相對(duì)含量。

注2：VW精加工清潔度要求是15μm，粗加工清潔度要求是50μm。

GM精加工清潔度要求是10μm，粗加工清潔度要求是44μm。

     （之前對(duì)標(biāo)數(shù)據(jù)，以當(dāng)前執(zhí)行要求為準(zhǔn)）